国際活動

2003年8月10日

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[The 10th European Meeting on Ferroelectricity]

-Aug. 2003 Cambridge, UK-
■ Origin of the Retention Property of YMnO3 Based MFIS Capacitors.　　Norifumi Fujimura
■ D-E Measurements for Ferroelectric Gate Capacitors.　　Takeshi Yoshimura