走査電子顕微鏡（SEM）

走査電子顕微鏡（SEM）
メーカー名型番日本電子　JEM-6010PLUS 管理局中百舌鳥キャンパス　研究基盤共用センター設置場所中百舌鳥キャンパス　B5棟1C-61室予約状況確認（学内）お問い合わせ
仕様特徴走査電子顕微鏡（SEM）では、材料表面形態の観察が行えます。付属するエネルギー分散型X線分光装置では、化学組成の定性・定量分析が可能です。学内利用料金設定本人測定：基本料（36,000円/年・グループ（EPMA、PMPMS、SEM 3機器））、使用料（2,000円/日）学外利用料金設定共同受託研究：実施および費用は双方で協議の上、決定

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走査電子顕微鏡（SEM）では、材料表面形態の観察が行えます。

付属するエネルギー分散型X線分光装置では、化学組成の定性・定量分析が可能です。