19_凍結割断レプリカ作成装置

凍結割断レプリカ作成装置

19_凍結割断レプリカ作成装置

メーカー名/型番

   日本電子 / EM-19501 JFDV

管理部局

   杉本キャンパス　理学研究科

設置場所

　杉本キャンパス 理学部棟C206室 【宮田真人】

お問い合わせ

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仕様 特徴

EM-19501 JFDV

生物試料や軟試料、溶液試料を急速凍結レプリカ電子顕微鏡法で観察するための試料を作製する装置。凍結によって物理固定された試料からフリーズフラクチャ法やフリーズエッチング法などによってレプリカ膜を作製することにより、試料本来の形態を観察する。当装置は，再現性の高い超微粒子蒸着が容易に行えるため、良質なレプリカ膜作製が可能。また、分子レベルの観察を目的とした低角度回転蒸着法にも優れている。

 

排気系

完全自動排気

到達真空度

5×10-5Pa以下

温度コントロール

+40～-170℃　精度±（1.5％+1digit）
自動制御、デジタル表示

試料回転

モータ駆動

試料傾斜

0～90°（モータ駆動）

ナイフ移動

マイクロメータ二段方式（粗動、微動）

蒸着

マテリアル送り出し機構付　2極切替方式

蒸着マテリアル

プラチナ－＋カーボン、カーボン

学内 利用料金設定

  • 依頼分析：料金は別途お問い合わせください。

学外 利用料金設定

  • 学術指導：費用は双方で協議の上、決定します。
  • 共同 受託研究：費用は双方で協議の上、決定します。