38_卓上型全反射蛍光X線分析装置

仕様 特徴

全反射蛍光Ｘ線分析法を採用し、液体中や固体表面の極微量元素をppbレベルで高感度分析できる卓上型全反射蛍光Ｘ線分析装置の次世代機です。全反射蛍光Ｘ線分析法は、試料に対してすれすれにＸ線を入射する手法で、試料に含まれる極微量元素の低バックグラウンド・高感度測定を可能にしています。

環境規制が厳格化する中、たとえば工場廃液などに含まれるAs（ヒ素）、Se（セレン）およびCd（カドミウム）などについて、ppbレベルの分析をより簡単な方法で行いたいというニーズは高まりを見せています。本装置を使用すれば、液体の水滴を試料板に垂らし、乾燥させてから測定するという簡便な方法で、ごく少量の試料でも、ppbレベルの分析が可能です。また、内標準物質を使った定量分析も容易に実行することができます。

本装置は、全自動光軸調整システムによる安定した高感度分析と、卓上型で扱いやすく、手軽に操作できる機動性を兼ね備えた装置です。600Wの高出力Ｘ線源と新開発のミラー、大面積のSDD検出器により、高強度・高感度測定を可能にしています。
^※1Cdの検出下限は2ppb。液中のAsやSeの場合、0.8ppb以下の検出限界を実現しています。

Kα線を高効率に励起できることも大きな特長です。これまで原子番号48のCdは、Kα線を励起することが困難で、測定の難しいL線による分析に頼ってきました。しかし、本装置で使用する新開発のミラーは約30keVの高エネルギー励起源を利用できるため、高S/Nでクリアなピークを得られるKα線を使ったCd測定が可能です。工場廃液のスクリーニング分析や、ワインに代表される飲料分析といった分野で、広く活用されることが期待できます。

固体表面の分析においては、主に薄膜・フィルム分野において、表面より少し深い部分の分析も行いたいというニーズもあります。こうした分析の場合、Ｘ線の入射角を変えることで、奥にある元素を励起させて分析する斜入射蛍光Ｘ線分析法を使用します。本装置は、入射角度変更機能を備えているため、情報深さを変えて表面分析を行うことを可能にしています。この仕組みは、ナノパーティクルサイズの研究などに活用することができます。

学内 利用料金設定

• • 本人測定：料金は別途問い合わせください。
  • 依頼分析：料金は別途問い合わせください。

学外 利用料金設定

• • 依頼分析：12,700円/時間
    
  • 学術指導：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
  • 共同 受託研究：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。