40_テラヘルツ分光装置

テラヘルツ分光装置（自作）

ダイナミクレンジは1 THz付近で120 dB以上あり1 THzから離れると小さくなる。
測定結果（時間波形、FFTスペクトル、透過率スペクトル、位相差スペクトル、複素光学定数）をテキスト形式で保存可能。

【測定例】
半導体ウエハ、強誘電体結晶（セラミック）、非線形光学結晶、光学異方性のある固体材料、ポリマー系樹脂、透明導電膜などの固体材料の透過測定。織金網等の金属周期構造体やチロシンなどの粉体試料およびポリマー系発泡樹脂の透過測定。有機溶媒単体や混合溶液、水蒸気、アルコール系の気体の透過測定。

光学系	透過測定光学配置
測定範囲	周波数：0.1～3 THz、波数：3.3～100 cm-1、波長：0.1～3 mm、エネルギー：0.48～14.4 　meVa
スペクトル分解能	10 GHz
測定条件	常温、大気圧、測定光束断面：1～10 mm (1 THz)、直線偏光
試料形状	固体試料(標準) 　粉体、液体、気体試料（別途相談）
特徴	テラヘルツ時間領域分光法を採用。光学定数（誘電率、屈折率など）の複素成分を導出可能。