42_フーリエ変換赤外分光光度計

仕様 特徴

赤外分析のソリューション

日本分光の最新技術を導入し、高感度化はもとより、安定性、操作性においても最高レベルを追求したFTIRです。
干渉計のコントロールには、DPS制御を採用しています。He-Neレーザの干渉波を常時モニターして、DPSを介してフィードバックをかけることにより、高精度な移動鏡の制御を可能にしています。A/Dコンバータには24ビットタイプを採用し、高ビット化によるSN比向上を図っています。付属品認識機構IQアクセサリーは付属品情報を読み込み、測定条件が設定されます。本体とPCの接続にはUSB2.0を用い、高速通信が可能になっています。光学系は、筺体の後部に干渉計部を配置することによりサイズダウンを図っていますが、試料室は大型の付属品にも対応できるサイズを確保しています。光学ベースは堅牢なリブ構造により、温度変化や長期的な構造の歪みを抑制します。光学ベースを支える脚部は免振構造になっており、外部からの振動を抑え、安定した測定を可能にしています。

データ検索　化合物の同定方法として赤外分析は非常に優れた手法ですが、解析には豊富な経験が必要とされます。日本分光では、標準でサドラースペクトル検索(1万データライブラリー付)と部分構造解析支援プログラムを搭載し、複合成分検索も行えます。

測定開始ボタン装備　測定開始ボタンを装備し、本体からの操作で測定を開始することができます。多検体を測定するような場合、ソフトから測定開始の操作をする必要がなく、迅速な処理が可能になります。簡易測定プログラムとの組み合わせにより、より簡便な測定が可能となります。

コーナーキューブミラー　精度と安定性が要求される干渉計に逆行反射素子であるコーナーキューブミラーを使用することにより、外乱等による影響をリアルタイムでキャンセルすることにより近赤外領域でのスループットが向上しています。

IQアクセサリー(付属品認識機構)　IQアクセサリーにより、対応付属品が試料室にセットされると測定プログラムが認識し、その付属品用の測定条件が自動的に設定されます。さらにデータ情報として使用した付属品名が記録されます。また、日本分光純正品以外の付属品も登録することにより、認識させることができます。

学内 利用料金設定

• • 本人測定：料金は別途お問い合わせください。

学外 利用料金設定

• • 学術指導：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。
  • 共同 受託研究：実施及び費用は双方で協議の上、決定します。