【杉本・阿倍野キャンパス機器一覧】

 

                                                                                                            杉本・阿倍野キャンパス　研究基盤共用センターパンフレット

最先端分析

22_顕微蛍光イメージング測定装置
23_高強度フェムト秒レーザー照射装置
24_フェムト秒レーザーイオン化質量分析装置

元素分析

01_元素分析装置
35_分光光度計
41_高速液体クロマトグラフ
44_分光蛍光光度計
45_全有機体炭素計
46_ICP発光分析装置
50_イオンクロマトグラフ

ＮＭＲ

03_300MHz核磁気共鳴装置
04_400MHz核磁気共鳴装置
05_400MHz核磁気共鳴装置（JEOL)①
60_400MHz核磁気共鳴装置（JEOL)②
61_400MHz核磁気共鳴装置（JEOL)③
06_600MHz核磁気共鳴装置
36_核磁気共鳴装置

質量分析

07_磁場型質量分析装置

08_TOF型質量分析装置
09_TOF型質量分析装置
57_MALDI TOF型質量分析装置
58_ESI TOF型質量分析装置
10_GC質量分析装置
21_質量分析装置

Ｘ線解析

11_低分子用単結晶X線解析装置
33_単結晶X線回折装置
56_単結晶X線構造解析装置
39_X線マイクロCT

ＥＳＲ

12_XバンドCW-ESR装置
14_XバンドCW・パルスESR装置
15_QバンドパルスESR装置
17_X/QバンドCW-ESR装置

電子顕微鏡（含：その他顕微鏡）

18_透過型電子顕微鏡
19_凍結割断レプリカ作成装置
20_急速凍結装置
26_透過型電子顕微鏡
34_電界放出型走査電子顕微鏡
37_集束イオンビーム（FIB）ナノ加工顕微鏡装置
48_走査型プロープ顕微鏡
49_低真空走査電子顕微鏡(+クールステージ)
53_クライオ透過型電子顕微鏡
54_凍結試料作製装置

化学状態分析

31_X線光電子分光装置
40_テラヘルツ分光装置
42_フーリエ変換赤外分光光度計

微量ＸＲＦ分析

38_卓上型全反射蛍光X線分析装置Ⅱ

微小部ＸＲＦ分析

27_共焦点３次元蛍光X線分析装置（真空仕様）
28_共焦点３次元蛍光X線分析装置（大気仕様）
32_X線分析顕微鏡

その他

47_接触角計
51_マイクロ天びん
52_ゼータサイザー
55_超短パルスレーザー再生増幅装置
59_磁気特性測定システム(SQUID)